[发明专利]用于断路器剩余寿命的评估方法和装置

摘要

本发明公开了一种用于断路器剩余寿命的评估方法和装置，该评估方法包括：以下步骤：获取影响断路器寿命的m个因素e1，e2，...，em，m个因素e1，e2，...，em一一对应的分值U＝(u1,u2,...,um)，m个因素e1，e2，...，em一一对应的权重集A＝(a1,a2,...,am)，其中，m为自然数，0a1,a2,...,am1，获取断路器的n个不同剩余寿命状态V＝{v1,v2,...,vn}，评价矩阵Rmn＝(rij)m×n；其中，n为自然数，0≤rij≤1，rij为因素ei对vj的影响因子；对于任意的i，生成1xn的矩阵B＝(u1*a1,u2*a2,...,um*am)*R＝(b1,b2,...,bn)，基于矩阵B生成所述断路器的剩余寿命状态。该评估方法能够预估断路器的剩余寿命。