[发明专利]一种光谱发射率的测量方法及系统有效
| 申请号： | 202110777853.6 | 申请日： | 2021-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN113686451B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 吴军;马建光;刘超;李大成;王安静;李扬裕;崔方晓 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院;中国人民解放军32801部队 |
| 主分类号： | G01J5/53 | 分类号： | G01J5/53;G01J5/08;G01J5/0802 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 林凡燕 |
| 地址： | 23000*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统，所述光谱发射率的测量方法包括：采用红外光源照射目标；获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度；获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度；通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度，获取多个温度下，所述目标的光谱发射率曲线；获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标，并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度；以及获取所述最佳温度时，所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法，能够较的精确获取目标的光谱发射率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 发射 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院;中国人民解放军32801部队，未经中国科学院合肥物质科学研究院;中国人民解放军32801部队许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110777853.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
