[发明专利]一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202110771765.5 | 申请日: | 2021-07-08 |
公开(公告)号: | CN113590393A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 林丰 | 申请(专利权)人: | 深圳TCL新技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G01R31/00 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 黄灵飞 |
地址: | 518052 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请实施例公开了一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质;本申请实施例可以获取针对智能设备的测试配置信息;根据测试配置信息向智能设备发送测试启动指令,以使得智能设备根据测试启动指令执行相应的测试操作;根据测试配置信息向至少一个测试仪发送测试监控指令,以使得测试仪根据测试监控指令对智能设备进行测试监控;接收智能设备发送的测试状态信息和测试仪发送的测试反馈信息;根据测试状态信息和测试反馈信息生成智能设备的测试报告,提高了对智能设备进行整机测试的效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 智能 设备 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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