[发明专利]一种FPGA逻辑测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110756274.3 申请日: 2021-07-05
公开(公告)号: CN113505063B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 贺莹;田莉蓉;王闯 申请(专利权)人: 中航机载系统共性技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F3/06;G01R31/3177
代理公司: 南京源点知识产权代理有限公司 32545 代理人: 黄启兵;王佳妹
地址: 225000 江苏省扬州市广陵区广*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于集成电路技术领域,具体提供了一种FPGA逻辑测试方法及装置。其中,方法包括:基于待测试逻辑源代码的待测试信号带宽和采样深度,确定测试待测试逻辑源代码所需的需求资源存储量;若需求资源存储量小于FPGA片内存储器的剩余存储量,则确定存储方式为片内存储,否则确定存储方式为片外存储;其中,片内存储对应的存储器为FPGA片内存储器,片外存储对应的存储器为外部存储器;基于嵌入式逻辑分析仪内核对待测试逻辑源代码进行测试,并根据确定的存储方式将测试产生的采样数据存储到对应的存储器中。本申请可以避免FPGA测试时因内部存储空间导致的采样深度低的问题,从而有效提高测试时的采样深度。
搜索关键词: 一种 fpga 逻辑 测试 方法 装置
【主权项】:
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