[发明专利]SPI NOR FLASH测试平台、测试方法、测试装置和电子设备有效
| 申请号： | 202110736016.9 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113436671B | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | 孙兆兴;伍双 | 申请（专利权）人： | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 黄家豪 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种SPI NOR FLASH测试平台、测试方法、测试装置和电子设备，通过SPI总线和片选信号线把同一组的多个被测FLASH芯片连接在同一个MCU芯片上，每组被测FLASH芯片集合由一个MCU芯片进行测试，在P/E cycling测试的过程中，当一个被测FLASH芯片正在擦写时，需要等待较长时间，此时MCU芯片可访问另一个被测FLASH芯片，从而避免测试时间过长，而且与现有技术中的一拖一方式相比，需要的MCU芯片少得多，可降低设备成本和结构复杂程度，有利于提高系统稳定性并减少设备的搭建耗时。 | ||
| 搜索关键词： | spi nor flash 测试 平台 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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