[发明专利]纠错能力测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202110724166.8 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN113470728A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林 | 申请（专利权）人： | 成都佰维存储科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 欧阳燕明 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开一种纠错能力测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的纠错能力的测试请求读取待测闪存的预设目标页的数据，得到目标数据，并根据测试请求中的操作指向设置指令将待测闪存的操作指向设置为页寄存器；从目标数据中随机选取任一位，得到目标位，并基于目标位对目标数据对应的预设目标页进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；读取位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据读取结果判断是否读失败，若是，则基于位翻转后的预设目标页确定待测闪存的纠错能力测试结果，否则，返回执行所述从所述目标数据中随机选取任一位步骤，从而在不损伤闪存颗粒的同时，提高了纠错能力测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 纠错 能力 测试 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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