[发明专利]一种荧光传感器检测痕量Hg2+ 在审
| 申请号： | 202110695591.9 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113358624A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 黎舒怀;庞朝海;马雄辉;王明月;张群 | 申请（专利权）人： | 中国热带农业科学院分析测试中心 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 焦伟丽 |
| 地址： | 571101 *** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： |
本发明适用荧光传感器技术领域，提供一种荧光传感器检测痕量Hg |
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| 搜索关键词： | 一种 荧光 传感器 检测 痕量 hg base sup | ||
【主权项】：
暂无信息
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