[发明专利]一种液晶显示面板测试方法及设备在审
| 申请号： | 202110675316.0 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN113436561A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 卓恩宗;韦超;夏玉明;袁海江 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 晏波 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开一种液晶显示面板测试方法及设备，在阵列电测中对阵列板的栅极加持续第一时长的第一电压，对阵列板的漏极加持续第一时长的第二电压，再对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常；在切割后点片测试中对第一半成品的栅极加持续第二时长的第三电压，对第一半成品的漏极加持续第二时长的第四电压，再对加压后的第一半成品进行测试，以确定第一半成品是否异常；其中，第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，第一电压、第三电压处于栅极的额定电压区间之外，第二电压、第四电压处于漏极的额定电压区间之外；解决了现有液晶显示面板测试过程粗糙，导致液晶显示面板漏检率高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶显示 面板 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
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