[发明专利]一种低频磁场频谱测量方法及系统有效
| 申请号： | 202110673013.5 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN113359070B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 崔勇;孙浩洋;杨世武;魏子钧 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01R33/10 | 分类号： | G01R33/10 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人： | 毛燕生 |
| 地址： | 100044 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种低频磁场频谱测量方法及系统，属于测量低频磁场技术领域。实验标定与测量步骤：通过信号发生器产生周期正弦信号，经由功率放大器放大信号电流，通入标准线圈中产生标准磁场，再利用测量线圈测量标准线圈中心点处的磁场，利用示波器对感应电压波形进行采集并处理，最终得到测量线圈传感系数频响曲线的实验结果；理论计算仿真步骤：将实验结果与理论计算结果、仿真结果进行对比分析，采用分段拼接的方式确定最终的关系曲线；实际测量步骤：获得电压频谱，通过关系曲线得到磁场频谱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低频 磁场 频谱 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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