[发明专利]一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法在审
申请号: | 202110668746.X | 申请日: | 2021-06-16 |
公开(公告)号: | CN113405768A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 张锋华;孙乐;靳诺;崔燕;蒲子昂;丁玉梅;杨卫民 | 申请(专利权)人: | 北京化工大学 |
主分类号: | G01M10/00 | 分类号: | G01M10/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法,其装置包括干燥腔、管路阀门、风机、高压氦气/氢气瓶、纳米气泡发生器、温度传感器、超声雾化装置、干燥管和热风机;高压氦气/氢气瓶通过纳米气泡发生器的进气口持续提供气源,同时通过纳米气泡发生器的进水口供水,进而生成氦气/氢气纳米气泡溶液,再通过超声雾化装置进行雾化,喷入干燥腔中,雾化形成的小液滴在干燥气体环境中下落,形成的液滴在风机的作用下持续输送至气流场测试段。本发明的小液滴具有良好流场跟随性,内部大量纳米级空穴增强了对光的反射,使示踪粒子具有良好的光散射特性,完成实验后,将温度升高,由水生成的小液滴会升华和蒸发,不会污染实验环境。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纳米 气泡 技术 气流 piv 粒子 制备 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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