[发明专利]一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110668746.X 申请日: 2021-06-16
公开(公告)号: CN113405768A 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 张锋华;孙乐;靳诺;崔燕;蒲子昂;丁玉梅;杨卫民 申请(专利权)人: 北京化工大学
主分类号: G01M10/00 分类号: G01M10/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法,其装置包括干燥腔、管路阀门、风机、高压氦气/氢气瓶、纳米气泡发生器、温度传感器、超声雾化装置、干燥管和热风机;高压氦气/氢气瓶通过纳米气泡发生器的进气口持续提供气源,同时通过纳米气泡发生器的进水口供水,进而生成氦气/氢气纳米气泡溶液,再通过超声雾化装置进行雾化,喷入干燥腔中,雾化形成的小液滴在干燥气体环境中下落,形成的液滴在风机的作用下持续输送至气流场测试段。本发明的小液滴具有良好流场跟随性,内部大量纳米级空穴增强了对光的反射,使示踪粒子具有良好的光散射特性,完成实验后,将温度升高,由水生成的小液滴会升华和蒸发,不会污染实验环境。
搜索关键词: 一种 基于 纳米 气泡 技术 气流 piv 粒子 制备 装置 方法
【主权项】:
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