[发明专利]一种基于三维微结构降低二次电子发射的方法有效

专利信息
申请号: 202110662115.7 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN113506968B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 李韵;谢贵柏;苗光辉;王君峰;李小军;李斌 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: H01P3/16 分类号: H01P3/16;H01P11/00;B22F10/20;B33Y10/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 710100 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于三维微结构降低二次电子发射的方法,包括:确定微波部件中沿电磁场传输通道方向的待降低二次电子发射表面;确定三维深度微结构加载区域;采用金属丝构成相交且尾端位于同一平面上的簇形结构;将簇形结构周期性首尾相连,两两编织,构成微结构单元;采用3D打印工艺,在三维深度微结构加载区域逐层加工制备微结构单元,形成三维深度微结构。本发明通过三维堆叠金属丝材料,在空间中形成三维深度微结构,实现二次电子发射的强抑制;同时在电磁场传输通道中控制微结构单元的表面投影尺寸大小,最小化对电性能的影响,最终实现不影响电性能的二次电子发射强抑制的三维深度微结构,具有物理结构稳定、与器件结合度优异等优点。
搜索关键词: 一种 基于 三维 微结构 降低 二次电子 发射 方法
【主权项】:
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