[发明专利]残影测试方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 202110661920.8 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN113345356B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 高静岩 | 申请（专利权）人： | 合肥维信诺科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 230037 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及显示面板测试技术领域，公开了一种残影测试方法，分别获取在至少两种颜色的纯色画面下所述待测显示面板的残影测试参数值，并根据不同颜色纯色画面下的所述残影测试参数值确定残影评价值，所述残影评价值用于表征所述显示面板的残影程度。本发明中提供的残影测试方法、装置及存储介质，给出了一种残影客观量化的测试方法，且综合考虑人眼对不同颜色敏感程度的差异，使得残影测试结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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