[发明专利]一种高温粒子幕光谱发射率的测量系统及其方法有效
| 申请号： | 202110658553.6 | 申请日： | 2021-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN113418890B | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | 杨理理;黄冠;詹叶圳 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G01N21/71 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 陈国强 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高温粒子幕光谱发射率的测量系统及其方法，该系统包括傅里叶红外光谱仪、黑体辐射源、反射镜、旋转台、光路保护罩、氮气瓶、粒子幕加热炉、双色红外测温仪和计算机，所述傅里叶红外光谱仪与第一计算机连接；所述黑体辐射源由数字式PID控制器控制；粒子幕加热炉由温度控制器控制；颗粒放置在粒子幕加热炉的内胆中，预热完成后通过第一高温阀门释放形成粒子幕，一个双色红外测温仪用于测量自由落体粒子幕的温度，该双色红外测温仪与第二计算机相连；利用傅里叶红外光谱仪测量粒子幕辐射信号和同温度下黑体辐射信号计算得到粒子幕光谱发射率。本发明可以测量不同温度和厚度粒子幕的光谱发射率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高温 粒子 光谱 发射 测量 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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