[发明专利]一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准装置及校准方法有效

专利信息
申请号: 202110627495.0 申请日: 2021-06-04
公开(公告)号: CN113281296B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 刘红元;吴斌;王洪超;杨延召;李京松;应承平 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01N21/3581 分类号: G01N21/3581
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 陈岚崴
地址: 266000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供了一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准装置及校准方法,其中校准装置主要采用反射法测量太赫兹探测器的相对光谱响应和采用CO2泵浦气体激光系统单点绝对响应率两大系统来完成。主要有反射式红外傅立叶变换光谱系统、CO2泵浦气体激光系统、太赫兹功率计、精密位移台、控制器及数据采集系统组成。本发明可以实现采用传统校准探测器绝对光谱响应的方法来实现对太赫兹探测器绝对光谱响应的校准。
搜索关键词: 一种 赫兹 探测器 绝对 光谱 响应 校准 装置 方法
【主权项】:
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