[发明专利]一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准装置及校准方法有效
申请号: | 202110627495.0 | 申请日: | 2021-06-04 |
公开(公告)号: | CN113281296B | 公开(公告)日: | 2022-10-11 |
发明(设计)人: | 刘红元;吴斌;王洪超;杨延召;李京松;应承平 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01N21/3581 | 分类号: | G01N21/3581 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 陈岚崴 |
地址: | 266000 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明提供了一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准装置及校准方法,其中校准装置主要采用反射法测量太赫兹探测器的相对光谱响应和采用CO |
||
搜索关键词: | 一种 赫兹 探测器 绝对 光谱 响应 校准 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110627495.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。