[发明专利]基于B/S架构的自动化测试方法、装置、存储介质及设备在审
| 申请号： | 202110604298.7 | 申请日： | 2021-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN113204495A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 熊盛;陈俊宇;翁国川 | 申请（专利权）人： | 广州方硅信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F9/451 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈嘉雯 |
| 地址： | 511442 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种基于B/S架构的自动化测试方法、装置、存储介质及设备，当用户需要使用自动化测试工具自定制一个自动化测试用例时，可以发送创建用例请求，客户端收到该创建用例请求后，新建用例事件，并显示对应的自定义界面供用户进行参数设置，当用户设置好参数后，客户端接收用户输入的参数信息，并根据该参数信息生成对应的测试数据，以便服务器根据该测试数据进行解析，并提取相应的用例信息对指定设备进行自动化测试；上述整个测试流程无需研发人员的介入，用户可自行通过页面的交互直接完成以上操作，有效提高测试效率以及用户体验，并减少人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 架构 自动化 测试 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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