[发明专利]一种避免胶滴延流造成污染的半导体分立器焊点上胶装置在审
申请号: | 202110600407.8 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113145403A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 姚丹祥 | 申请(专利权)人: | 广州贝莱光电科技有限公司 |
主分类号: | B05C5/02 | 分类号: | B05C5/02;B01F15/00;B01F7/24 |
代理公司: | 北京高航知识产权代理有限公司 11530 | 代理人: | 王卓 |
地址: | 510665 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及半导体分立器焊点上胶设备技术领域,且公开了一种避免胶滴延流造成污染的半导体分立器焊点上胶装置,包括外壳,所述外壳的内部固定安装有进胶管,所述外壳的内部固定安装有电机,所述电机的底部转动连接有混合电控机构。该避免胶滴延流造成污染的半导体分立器焊点上胶装置,电机带动混合电控机构和搅拌杆同步转动,通过混合电控机构控制上胶机构中的电磁铁,在电磁铁和永磁体以及过渡管的作用下,使大小相同胶滴的均匀的下落,大大提高了设备的上胶效率,同时避免了由于延流造成设备或周围环境受到污染,而且减少了胶液的浪费,可适用不同大小焊点的上胶,与现有的设备相比,更加环保实用。 | ||
搜索关键词: | 一种 避免 胶滴延流 造成 污染 半导体 分立 器焊点上胶 装置 | ||
【主权项】:
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