[发明专利]一种用于多通道装置测试的开关矩阵结构及测试系统

摘要

本发明提供了一种用于多通道装置测试的开关矩阵结构，包括用于连接测试设备的上行端口组和用于连接待测多通道装置的下行端口组，所述上行端口组设置有至少四个第一端口，所述第一端口由第一单刀多掷开关构成；所述下行端口组设置有至少四个第二端口，所述第二端口由第二单刀多掷开关构成；同一所述第一单刀多掷开关的各个开关臂分别与各个所述第二单刀多掷开关中的一开关臂连接；所述第一单刀多掷开关的输入端为所述第一端口的外接端，所述第二单刀多掷开关的输入端为所述第二端口的外接端。接入该结构后测试系统可以形成多个不同的测试通道，通过开关的切换，使相应的测试通道进入工作状态，完成多个测试。