[发明专利]一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统在审
| 申请号： | 202110539392.9 | 申请日： | 2021-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN113253085A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王浩然;王鼎奕;刘雷;王圣明 | 申请（专利权）人： | 合肥恒钧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈颖 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统，以使测试结果能够更加真实地反映被测器件的功率循环能力。该系统包括：测试电路和控制器；所述测试电路的主回路上串联有直流电源、第一开关单元、感性器件和被测器件，所述测试电路还包括所述感性器件的续流回路；所述控制器，用于控制所述第一开关单元循环通断，并且在所述第一开关单元开通期间控制被测器件循环通断，在所述第一开关单元关断期间通过冷却系统对被测器件进行冷却，以使被测器件的结温波动符合规定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 循环 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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