[发明专利]柔性铌酸锂薄膜脑电检测芯片及装置在审
申请号: | 202110536669.2 | 申请日: | 2021-05-17 |
公开(公告)号: | CN113261968A | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 华平壤;丁宁 | 申请(专利权)人: | 派尼尔科技(天津)有限公司 |
主分类号: | A61B5/291 | 分类号: | A61B5/291;A61B5/25;A61B5/31 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市滨海新区经济技*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供柔性铌酸锂薄膜脑电检测芯片及装置,该芯片包括:柔性铌酸锂基底,柔性铌酸锂基底上制作有光波导以及共面行波电极;柔性支撑层,用于为柔性铌酸锂基底提供支撑;柔性支撑层表面设置有电极,共面行波电极与该电极电连接。发明中,柔性铌酸锂基底以及柔性支撑层具有柔性,能够更好地和人脑表面贴合;柔性支撑层和人脑表面贴合,柔性支撑层的电极与人脑电接触,电极采集到脑电信号,传输到铌酸锂基底上的共面行波电极上,在共面行波电极间形成微弱的电场,引起柔性铌酸锂基底折射率发生变化,光从光波导传输经过折射率发生变化的调制区域,光程发生改变,在输出时的相位发生变化;由于远距离传输是使用的光传输,不易受到电磁干扰。 | ||
搜索关键词: | 柔性 铌酸锂 薄膜 检测 芯片 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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