[发明专利]一种矩阵光开关的测试装置及方法有效
| 申请号： | 202110534281.9 | 申请日： | 2021-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN113381808B | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 肖清明;徐文广 | 申请（专利权）人： | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04Q11/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 王军红;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种矩阵光开关的测试装置及方法，其中所述装置包括控制组件、光发射组件、第一开关组件、第二开关组件和光接收组件，其中；所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间按照设定方式连接，形成多个测试通道；所述设定方式与所述光发射组件中光发射单元的使用数量、所述待测矩阵光开关的型号相关；所述多个测试通道中的测试通道与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应；所述控制组件，用于执行测试程序，所述测试程序在执行时能够依次对所述多个测试通道中的每一个测试通道进行测试，获得所述待测矩阵光开关的性能参数；所述性能参数用于反映所述待测矩阵光开关是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 矩阵 开关 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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