[发明专利]高低温反偏老化测试系统及其控制方法在审
| 申请号： | 202110511300.6 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN113238111A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 刘年富 | 申请（专利权）人： | 杭州高裕电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/52;G05B19/04 |
| 代理公司： | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 | 代理人： | 沈相权;金磊 |
| 地址： | 311107 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高低温反偏老化测试系统及其控制方法，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面设有触摸屏，所述的触摸屏上方设有整机电源开关，所述的触摸屏下方设有老化电源，所述的高低温实验箱的控制端与实验箱操控台电性连接，所述的老化电源的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏的操控端分别与计算机电性连接。本发明具有测量准确性高、测量步骤简单和测试速度快等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 老化 测试 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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