[发明专利]PCIe测试治具码型自动切换方法及其装置在审
| 申请号： | 202110508494.4 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN113295946A | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 余守军 | 申请（专利权）人： | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/20;H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 吴珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区福城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及PCIe接口测试的技术领域，尤其是涉及PCIe测试治具码型自动切换方法，包括以下步骤：待测板通过PCIe接口连接测试治具，测试治具连接用于获取波形信号的示波器；脉冲源通过接入待测板作为脉冲的来源；脉冲源通过switch开关将脉冲信号输入到待测板的PCIe port的lane0端；将测试治具的Rx lane0端与switch开关的输出端进行连接；MCU通过EN端向switch开关发送控制信号进而自动控制switch开关的通断，每通断一次脉冲完成一次PCIe速率切换；通过示波器保存每一次PCIe速率切换后所相应的波形信号。本申请无需人工手动进行速率切换，减少测试工程师的工作量，方便测试。 | ||
| 搜索关键词： | pcie 测试 治具码型 自动 切换 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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