[发明专利]一种用于基坑表面位移监测的自动化图像位移测量系统在审

专利信息
申请号: 202110500060.X 申请日: 2021-05-08
公开(公告)号: CN113251933A 公开(公告)日: 2021-08-13
发明(设计)人: 邹超;蒋长远;竺琳;贺馨慧;张馨予;刘玉宝 申请(专利权)人: 上海砼测检测技术有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 上海骁象知识产权代理有限公司 31315 代理人: 赵俊寅
地址: 201802 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种用于基坑表面位移监测的自动化图像位移测量系统,包括机器视觉传感器、测量靶、基准靶、校准靶、网关、云端服务器;并按照下面方法运行:步骤一:预先按监测要求在测量点安装测量靶并同步安装好基准靶和校准靶,在基坑监测区域内选择合适地点安装机器视觉传感器装置;步骤二:机器视觉传感器通过拍摄并计算每一个测量靶与基准靶在同一个画面中的水平和竖向像素变化量,计算出监测点的水平和竖向位移变化情况;步骤三:步骤二步骤得到的测量靶处水平和竖向位移变化量在机器视觉传感器装置内部计算完成并以文本的方式输出,本发明基于机器视觉实时监测计算基坑支护围檩水平和竖向位移变化,具有连续性和系统性,提高监测精度和效率。
搜索关键词: 一种 用于 基坑 表面 位移 监测 自动化 图像 测量 系统
【主权项】:
暂无信息
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