[发明专利]一种考虑内壁面发射率影响的平均辐射温度计算方法在审

专利信息
申请号: 202110465228.8 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113139229A 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 张胜;牛顿 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G06F30/13 分类号: G06F30/13;G06F30/20;G06F119/08
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 弋才富
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种考虑内壁面发射率影响的平均辐射温度计算方法,第一步,基于各内壁面的尺寸和人到各内壁面的距离计算人体对内壁面的辐射角系数;第二步,基于第一步所得辐射角系数,连同各内壁面的尺寸、温度和发射率、空气温度和温度、及人体活动强度和服装热阻,迭代计算人体表面温度;第三步,基于第一步所得辐射角系数和第二步所得人体表面温度,连同各内壁面的尺寸、温度和发射率,计算人体与内壁面的辐射换热量;第四步,基于第二步所得人体表面温度和第三步所得人体与内壁面的辐射换热量,计算平均辐射温度;本发明立足于人体和内壁面的辐射换热量,因此能够用于准确地评估内壁面不同发射率影响下的热舒适。
搜索关键词: 一种 考虑 内壁 发射 影响 平均 辐射 温度 计算方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110465228.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top