[发明专利]一种RTK主机的放样控制方法、系统及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110441807.9 申请日: 2021-04-23
公开(公告)号: CN113137958B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 陆春意;伍晓勐;李忠超;刘合丽;杨荣仕;汪剑;黄浩;张佳临;郑永文;韩鹏飞 申请(专利权)人: 上海华测导航技术股份有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201702 上海市青浦区徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例公开了一种RTK主机的放样控制方法、系统及存储介质。其中,方法包括:获取设置在RTK主机底部的摄像头实时采集得到的目标图像;获取对中杆的杆尖在目标图像中的目标图像位置,其中,摄像头配置于对中杆之上;根据目标放样点的实际放置位置,以及摄像头的属性参数,确定目标放样点的理论图像位置;根据目标图像位置,以及理论图像位置,确定与RTK主机匹配的位置调整策略。本发明实施例的方案,解决了需要反复挪动RTK主机,才能完成一次放样操作,作业难度较大且作业效率低的问题,可以实现对RTK主机的精准放样控制,操作简单且效率高。
搜索关键词: 一种 rtk 主机 控制 方法 系统 存储 介质
【主权项】:
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