[发明专利]PCIe测试治具及PCIe测试方法有效
| 申请号： | 202110428301.4 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113281583B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 余守军 | 申请（专利权）人： | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 吴珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区福城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及PCIe测试治具及PCIe测试方法，PCIe测试治具，包括底座，底座内设有信号端子和电阻端子，信号端子用于与PCLe端口电性连接，电阻端子用于与50欧姆的电阻电性连接；底座内设有切换机构，切换机构连接于信号端子和电阻端子之间；底座顶面开设有通孔。PCIe测试方法，包括：将从PCLe接口引出的时钟clock和数据data分别与对应的PCLe测试治具电性连接；使用示波器，将示波器的ch1、ch2、ch3和ch4分别插入对应PCLe测试治具上的通孔，依次对PCLe接口的全部通道进行测试。本申请具有提高测试效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | pcie 测试 方法 | ||
【主权项】：
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