[发明专利]集成电路层间耦合的迭代计算并行颗粒的划分方法及装置有效
| 申请号： | 202110425202.0 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN112818585B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 唐章宏;邹军;王芬;黄承清;汲亚飞 | 申请（专利权）人： | 北京智芯仿真科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/23 | 分类号： | G06F30/23;G06F30/33;G06F17/16;G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京星通盈泰知识产权代理有限公司 11952 | 代理人： | 李筱 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区信*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了集成电路层间耦合的迭代计算并行颗粒的划分方法及装置，首先将迭代计算划分为三类计算单元：基本计算单元、集成电路层‑层计算单元和各层的电磁场和电流分布计算单元；其次根据所述三类计算单元将集成电路层间耦合的迭代计算划分为互不重叠的计算颗粒；第三，基于一次完整的串行迭代计算，获取各计算颗粒的加权CPU时间和总CPU时间，依据所述加权CPU时间的占比将所述计算颗粒合并为不同的并行颗粒；最后，对并行颗粒进行分类，同类并行颗粒相互独立，其对应的计算任务序列可以随机打乱，形成新的计算任务序列动态分配到不同计算进程。本发明确定了集成电路层间耦合计算的一种高效并行计算的并行颗粒划分方法，降低集成电路的仿真时间。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 耦合 计算 并行 颗粒 划分 方法 装置 | ||
【主权项】：
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