[发明专利]一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法在审
| 申请号： | 202110351365.9 | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113030198A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 丁显波;赵鑫;李笑笑;钟西舟 | 申请（专利权）人： | 深圳市溢鑫科技研发有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/20 | 分类号： | G01N27/20 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 谭雪婷;彭西洋 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法，该方法包括以下步骤：S10、提供一材料表面方阻检测装置和一检测平台，将直立石墨烯薄膜的检测样品置于所述检测平台上；S20、取检测样品的中心点作为第一检测点，调整检测参数，启动表面方阻检测装置测得第一检测点的表面方阻值；S30、调节表面方阻检测装置，使其探针从第一检测点移动一定距离至下一检测点进行检测，直至检测到待测试石墨烯材料的边缘；其中多个检测点均在同一直线上；S40、统计得到各个检测点的表面方阻值，据此判断检测产品的品质。本发明对多个选定检测点的表面方阻进行检测，并根据检测统计结果判断该检测样品整体表面方阻情况，对后续的生产优化方向及产品分级具有重要的指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 直立 石墨 薄膜 材料 品质 检测 分析 方法 | ||
【主权项】：
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