[发明专利]横机电磁阵列驱动结构中力-位移测量装置及其控制方法有效
| 申请号： | 202110338636.7 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113091810B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 张成俊;熊涛;李冬冬;尹文姝;李明;左小艳;周向阳 | 申请（专利权）人： | 武汉纺织大学 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02;G05B19/042;D04B35/00 |
| 代理公司： | 武汉市首臻知识产权代理有限公司 42229 | 代理人： | 章辉 |
| 地址： | 430073 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种横机电磁阵列驱动结构中力‑位移测量装置，包括运动座、永磁织针、测克计与位移传感器，运动座分别与步进电机、直线导轨相连接，运动座上沿水平方向均匀插装有多个织针导筒，织针导筒中插装有永磁织针，织针导筒的正下方设置有电磁线圈，电磁线圈安装在线圈安装座上，线圈安装座安装在伺服电机模组的滑块上，运动座上安装有测克计安装座，测克计安装座上沿水平方向均匀安装有多个测克计，测克计的测头与永磁织针的头部相接触，位移传感器位于永磁织针的正上方，位移传感器安装在位移传感器安装座上。本设计不仅提高了横机电磁阵列驱动结构设计的准确性、提高了横机织针驱动效率，而且操作方便、测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 机电 阵列 驱动 结构 位移 测量 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉纺织大学，未经武汉纺织大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110338636.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种FeNi/NiFe
- 下一篇：一种边缘异构计算环境仿真系统
