[发明专利]一种地质剖面真厚度直接测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 202110337798.9 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN112833766B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 许强;岳雅慧 申请(专利权)人: 西南石油大学;中国科学院青藏高原研究所
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 代理人: 罗军
地址: 610500 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种地质剖面真厚度直接测量装置及测量方法,一种地质剖面真厚度直接测量装置,包括有刻度的测量杆,测量杆上部通过固定装置安装有测量系统及GPS定位系统,测量系统包括用于测量地层倾角的仪器以及用于精准定位的激光笔;测量地层倾角的仪器、激光笔分别平行装配在测量杆两侧左侧,中心高度保持一致。本发明既能直接测量地层真厚度,既能适应各种地形环境下简单方便地进行剖面测量、剖面平移、地形和样点记录,又能避免测量参数多、测量不准确、计算繁琐等问题,从而达到提高野外地质工作效率和质量,减少人员工作量的目的。
搜索关键词: 一种 地质 剖面 厚度 直接 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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