[发明专利]基于CMOS工艺的红外探测器像元和红外探测器有效
申请号: | 202110324096.7 | 申请日: | 2021-03-26 |
公开(公告)号: | CN113720483B | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 翟光杰;武佩;潘辉;翟光强 | 申请(专利权)人: | 北京北方高业科技有限公司 |
主分类号: | G01J5/24 | 分类号: | G01J5/24 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 安伟 |
地址: | 100070 北京市丰台*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及基于CMOS工艺的红外探测器像元和红外探测器,包括:CMOS测量电路系统和其上的CMOS红外传感结构,采用全CMOS工艺制备;CMOS红外传感结构包括反射层、红外转换结构和多个柱状结构,及位于反射层上的介质保护层以及刻蚀阻挡层;柱状结构包括叠加设置的至少两层立柱,位于反射层和红外转换结构之间,反射层包括反射板和支撑底座,红外转换结构通过柱状结构和支撑底座与CMOS测量电路系统电连接;每层立柱均可为实心金属柱、非金属实心柱或空心柱中的至少一种;介质保护层包围柱状结构的侧面,刻蚀阻挡层至少覆盖于介质保护层的棱角位置处。由此,解决了传统MEMS工艺红外探测器的性能低,像素规模低,良率低等问题;且提高探测灵敏度和结构稳定性。 | ||
搜索关键词: | 基于 cmos 工艺 红外探测器 | ||
【主权项】:
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