[发明专利]一种相控阵天线测试方法、装置、设备及介质有效
申请号: | 202110314440.4 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN112964941B | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 韩爱福;黄晓霞;叶梓峰;陈国林 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G06N3/04 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 黎扬鹏 |
地址: | 510275 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种相控阵天线测试方法、装置、设备及介质,方法包括:确定相控阵列天线探头的位置点序列和测试任务序列;控制相控阵列天线探头移动至目标测试点的坐标位置;对所述目标位置进行自动化测试;根据预定义的神经网络优化算法对每个所述相控阵列天线探头的目标测试点进行扫描,获取采集数据;对扫描完毕后的所有采集数据进行数据校验,得到测量结束后的采样数据。本发明实施例能够提高大型相控阵天线探头扫描测试效率,可广泛应用于天线测量技术领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 相控阵 天线 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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