[发明专利]单元测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110313436.6 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113051163A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 罗秉安;连煜伟;赖培挺;李志勇 | 申请（专利权）人： | 中国工商银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 任默闻;王涛 |
| 地址： | 100140 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单元测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及信息安全技术领域，其中，该方法包括：对被测试程序执行反射操作，获取该被测试程序的测试信息，所述测试信息包括：类信息、函数信息和字段信息；根据所述被测试程序的类信息、函数信息和字段信息生成测试脚本，并根据预定规则对所述测试脚本进行默认数据填充处理；对所述被测试程序进行语法分析，根据分析结果生成测试案例；根据默认数据填充处理后的测试脚本和所述测试案例对所述被测试程序进行测试操作。通过本发明，可以有效降低单元测试的脚本和案例编写的成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 单元测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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