[发明专利]硬盘检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110292931.3 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN115116534A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 石晓琛 | 申请（专利权）人： | 北京金山云网络技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;丁芸 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了硬盘检测方法、装置、电子设备及存储介质，获取预设周期时段内存储系统中各待检测硬盘的延迟日志；根据延迟日志，确定各待检测硬盘的平均延迟；将各待检测硬盘的平均延迟与预设延迟阈值进行比较，得到平均延迟大于预设延迟阈值的待检测硬盘作为目标硬盘；分别对各目标硬盘进行坏道检测，得到各目标硬盘的坏道检测结果。硬盘在出现坏道后，其读写延时会明显增加，本申请实施例中，对平均延迟大于预设延迟阈值的硬盘进行坏道检测，相比于周期性对全量硬盘进行坏道检测，可以大大减少坏道检测的次数，能够在保证存储系统性能，且减少硬盘损耗的情况下，预先检测出硬盘的坏道。 | ||
| 搜索关键词： | 硬盘 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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