[发明专利]一种辐射制冷性能测试装置有效
| 申请号： | 202110264367.4 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN113063720B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 陈剑洪;殷齐蔚;杨海杰;刘跃军;洪昭斌;沈剑伟 | 申请（专利权）人： | 厦门理工学院 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 泉州劲翔专利事务所(普通合伙) 35216 | 代理人： | 许珠珍 |
| 地址： | 361000 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐射制冷性能测试装置，包括底座、温度计、高度调节机构、立柱、角度调节机构、样品台、样品装置、抗干扰帽、辐射制冷试样和翻盖，该温度计装设于该底座内，该高度调节机构底端紧固安装于该底座上，该立柱底端固定安装于该高度调节机构上，通过优化设置抗干扰帽，抗干扰帽上一体式帽体结构，抗干扰帽简易安装于样品装置上，结构简单实用，外表贴附银膜或涂刷白漆，用以降低附件本身对太阳辐射的吸收，能够高效防止多余光对实验数据的干扰；通过优化设置样品装置，样品装置底端设置螺母口，能够通过螺丝将样品装置整体简易安装在样品台上，样品装置安装方式简便，可放置多个样品装置，实现多样品同步测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 制冷 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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