[发明专利]一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法

摘要

本发明提出一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法，在测试区L两端设两个固结区，将多个电阻应变片Yi两端固结在测试对象上；在测试区L范围内，每个电阻应变片Yi的长度为Li‑1＜Li≤Li‑1(1+δ)（i=2,...,i,...n)，δ表示电阻应变片有效测试应变量程。当第i个电阻应变片Yi失效时，第i+1个电阻应变片Y1+1进入测试状态；变形测试数据为应变片Yi数据叠加Yi起始点同一时间点的Yi‑1末端数据，以此类推完成大变形检测。本发明将电阻应变片小变形测试优势拓展到大变形测试领域，能够提高大变形检测精度、拓展大变形检测范围，有很好的应用市场前景。