[发明专利]模型对量方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202110231359.X | 申请日： | 2021-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN112883475A | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 田思源;赵秋雅 | 申请（专利权）人： | 广联达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/13 | 分类号： | G06F30/13;G06Q50/08 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 张琳琳 |
| 地址： | 100193 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及图形处理技术领域，具体涉及模型对量方法、装置及电子设备，所述方法包括获取待对量的主审模型与送审模型，以及预设构件的替代构件类型，所述替代构件类型用于替换所述预设构件的目标构件类型；根据所述主审模型与送审模型中各图元的位置关系以及所述预设构件的替代构件类型，建立所述主审模型与送审模型中各图元的匹配项；基于所述各图元的匹配项对所述主审模型与送审模型进行对量，确定对量结果。在图元的匹配项建立过程中结合预设构件的替代构件类型，可以避免绘制习惯等带来的构件类型不同所导致的对量错误的问题，提高了对量结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 模型 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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