[发明专利]一种针对器件微放电抑制的多尺度关联分析方法有效
| 申请号： | 202110201212.6 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN112836421B | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 李永东;彭敏;王大威;曹猛;林舒 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G06F30/25 | 分类号： | G06F30/25;G06F111/10;G06F113/26 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王艾华 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对器件微放电抑制的多尺度关联分析方法，该方法涉及原子至纳米尺度、微米尺度和毫米至厘米尺度三个尺度，主要包括各个尺度上的参数计算和各尺度间的关联逻辑。原子至纳米尺度即材料化学组分与原子几何结构层面，表面微观结构层面属于微米尺度，而微波器件层面属于毫米至厘米尺度。该方法是一种从材料到表面再到器件的关联分析与设计方法。而且此关联分析方法成本低、周期短、效率高，为微放电实验的开展节省了大量的时间和无效试错成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 器件 放电 抑制 尺度 关联 分析 方法 | ||
【主权项】：
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