[发明专利]多微透镜汇聚二次成像探测的多目标参数测试装置和方法有效

专利信息
申请号: 202110187970.7 申请日: 2021-02-18
公开(公告)号: CN112985197B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 李翰山;张晓倩;卢莉萍;姚雷 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: F42B35/02 分类号: F42B35/02;G01P3/68;G01B11/00
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 代理人: 张举
地址: 710021 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种多微透镜汇聚二次成像探测的多目标参数测试装置和方法,涉及光电测试技术领域,由大画幅镜头、光学镜头、阵列汇聚透镜、光电探测器、双狭缝光阑、线阵CCD、信号处理电路模块、图像采集模块和上位机等组成,其中,双狭缝光阑呈不同的角度位于大画幅镜头的下方。当目标穿过探测区域,光电探测器探测到目标信号,通过信号处理电路模块将目标信号进行放大、滤波处理;线阵CCD获取目标图像,图像采集模块采集并存储目标图像,将目标信号和图像信息传输给上位机,本发明的测试装置构造简单、探测视场大、探测能力强,可对多目标参数测量。
搜索关键词: 透镜 汇聚 二次 成像 探测 多目标 参数 测试 装置 方法
【主权项】:
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