[发明专利]测试系统、方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110162671.8 | 申请日： | 2021-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN112783788A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 余家奎;芦辉;占翔林;李方鹏;柯军 | 申请（专利权）人： | 北京同邦卓益科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人： | 杜欣;吴雪 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种测试系统、方法、电子设备及存储介质，应用于计算机技术领域，其中系统包括：测试数据存储子系统和至少两个业务子系统，每个业务子系统均具有唯一的系统标识；测试数据存储子系统用于保存测试任务，测试任务包括至少一个测试步骤、各测试步骤对应的执行状态及各测试步骤的执行顺序，每个测试步骤中均包括执行测试步骤的业务子系统的系统标识；业务子系统用于在执行状态为初始化的测试步骤中，根据系统标识从测试数据存储子系统中获取目标测试步骤，在目标测试步骤执行完毕后，修改目标测试步骤的执行状态，将目标测试步骤的执行状态更新至测试数据存储子系统，指示测试数据存储子系统更新目标测试步骤的下一测试步骤的执行状态。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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