[发明专利]一种二极电磁铁磁场参数计算值的检验装置及方法有效
| 申请号： | 202110103449.0 | 申请日： | 2021-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN112782618B | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 陈文军;杨静;杨文杰;韩少斐;李亚如;柴一亮;王少明;袁建东;孙国珍;张旭东;闫立松 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01R33/00 | 分类号： | G01R33/00;G01R33/10;G01R33/07;G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 谢斌 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种二极电磁铁磁场参数计算值的检验装置及方法，其中，霍尔测头运动系统用于建立理论坐标系，霍尔测头跟踪系统用于建立实际坐标系，由于反射靶球与霍尔传感器都固定于测头基体上，且两者霍尔传感器的几何中心位于反射靶球的球心的铅垂线，因此，无论是在理论坐标系还是实际坐标系中，反射靶球与霍尔传感器的Y轴和Z轴上的坐标值都相等，仅在Z轴上存在高度差值H的差异。因此，当霍尔传感器在待测二极电磁铁的磁铁气隙中运动时，霍尔传感器的坐标值可以在实际坐标系Frame2中被霍尔测头跟踪系统测定，由此判断霍尔传感器的理论轨迹与实测轨迹之间的误差，并根据误差允许范围对二极电磁铁磁场参数计算值进行校对。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二极 电磁铁 磁场 参数 计算 检验 装置 方法 | ||
【主权项】：
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