[发明专利]一种微波设备测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202110095393.9 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN112564824A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 纪要;黎强;夏益锋;陶升伟;谢毅国;杨杰;陈爱琪;尚仁超;刘雷;潘建华 申请(专利权)人: 南京国立电子科技有限公司
主分类号: H04B17/11 分类号: H04B17/11;H04B17/15;H04B17/21;H04B17/29
代理公司: 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283 代理人: 郭翔
地址: 210000 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种微波设备测试系统。提供了一种用于实现在研发和生产过程中能够对产品的功能、性能等进行全面测试,并满足信息化和自动化要求的微波设备测试系统。包括控制计算机、电源和以太网HUB,还包括数字控制模块、激励开关、本振一、本振二和响应开关;所述控制计算机通过所述以太网HUB与所述数字控制模块运行显控程序,实现测试模式选择、测试控制参数下发、仪表控制、测试数据显示及录取功能;所述本振二在数字控制模块的控制下产生9GHz的射频信号进行幅度调制,并功分四路输出至被测件。本发明实现测试模式选择、测试控制参数下发、仪表控制、测试数据显示及录取等功能。
搜索关键词: 一种 微波 设备 测试 系统 方法
【主权项】:
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