[发明专利]一种改善OLED残像的方法、装置、显示装置及介质有效
| 申请号： | 202110083853.6 | 申请日： | 2021-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN112863439B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 许标;吴柏贤;赵爽 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/3208 | 分类号： | G09G3/3208 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种改善OLED残像的方法、装置、显示装置及介质，其中一种改善OLED残像的方法，包括：获取OLED显示面板的寿命衰减速率关系及寿命衰减程度关系；将显示面板的显示区域划分为若干子区域，分别监测每一子区域的温度变化和灰阶变化；获取当前时刻每一子区域的温度值和灰阶值，根据所述温度值、灰阶值计算当前寿命衰减速率，并计算每一子区域的当前发光时间；根据每一子区域的所述当前发光时间计算每一子区域的寿命衰减程度；根据每一子区域的当前寿命衰减程度分别对各区域进行像素补偿。本申请实施例提供的改善OLED残像的方法，可以根据不同区域子像素寿命衰减程度，对各区域进行不同的调整，改善OLED显示面板色偏和烙印问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 改善 oled 方法 装置 显示装置 介质 | ||
【主权项】：
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