[发明专利]一种模拟电路的剩余使用寿命预测方法及系统有效
| 申请号： | 202110034936.6 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN112685961B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 何怡刚;杜博伦;汪磊;何鎏璐;邢致恺 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06F119/04 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 张宇 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模拟电路的剩余使用寿命预测方法及系统，属于模拟电路寿命预测领域。搭建模拟电路的仿真模型，并选择输出电压为退化变量；设置不同退化周期，提取输出电压的退化特征；优选出能够反映模拟电路器件退化趋势的关键特征；采用多特征融合和相似度模型来构建健康指数曲线，表征不同器件的全寿命周期的退化过程；建立基于时间卷积网络与注意力机制的预测模型，将优选的特征和构建好的健康指标数据库作为TCN‑Attention网络的输入，预测模拟电路器件的剩余使用寿命。通过对一个模拟电路的实例分析，验证本发明提出的剩余使用寿命预测框架的有效性，并可扩展应用到其他模拟电路的剩余使用寿命预测上。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模拟 电路 剩余 使用寿命 预测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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