[发明专利]一种基于扩展FMECA和故障传播图的单粒子故障发生概率计算方法在审
| 申请号： | 202110028127.4 | 申请日： | 2021-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN112782549A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 黄姣英;刘基强;高成;王自力 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/265;G06F30/25 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于扩展FMECA和故障传播图的单粒子故障发生概率计算方法，它有五大步骤：一、机载电子设备系统组成分析以及单粒子故障模式影响分析；二、确定FMECA参数计算方法，构建传统的FMECA表格；三、将传统FMECA表中的“故障原因”扩展为“故障原因”和“故障原因贡献率”两项，构建机载电子设备受单粒子效应影响的扩展FMECA表格；四、基于建立的扩展FMECA表格，构建机载电子设备故障传播图；五、基于故障传播图，通过逐层推导，分析各底层单粒子故障模式的发生概率。本发明的目的是为了提供一种基于扩展FMECA和故障传播图的机载电子设备单粒子故障发生概率计算方法，在无法开展中子单粒子辐照试验时，它可以有效地计算底层单粒子故障发生概率，可为机载电子设备单粒子效应分析提供一种思路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 扩展 fmeca 故障 传播 粒子 发生 概率 计算方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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