[发明专利]一种真空环境电子辐照下的天线性能测量装置及方法在审
申请号: | 202110027183.6 | 申请日: | 2021-01-09 |
公开(公告)号: | CN112782489A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 彭敏;曹猛;翁明;李永东 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R1/02 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 王艾华 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种真空环境电子辐照下的天线性能测量装置,电子枪置于高真空室内,并位于金属载物台正上方,金属载物台上的引线固定夹与引线系统相连,再通过同轴线与SMA同轴接头链接,经过中间的隔离器,再接SMA同轴接头和同轴线与真空室的真空法兰连接,然后用同轴线连接位于真空室外的矢量网络分析仪,最后矢量网络分析仪连入计算机。电子辐照条件的产生和调控方法,待测天线电子辐照条件由电子枪产生,通过调节电子枪的电压来控制电子辐照强度,调节电子束斑大小确保电子辐照均匀覆盖待测天线全尺寸,本发明不仅结构简单,而且测量方法简便、测量周期短效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 真空 环境 电子 辐照 天线 性能 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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