[发明专利]一种真空环境电子辐照下的天线性能测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110027183.6 申请日: 2021-01-09
公开(公告)号: CN112782489A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 彭敏;曹猛;翁明;李永东 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R1/02
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 王艾华
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种真空环境电子辐照下的天线性能测量装置,电子枪置于高真空室内,并位于金属载物台正上方,金属载物台上的引线固定夹与引线系统相连,再通过同轴线与SMA同轴接头链接,经过中间的隔离器,再接SMA同轴接头和同轴线与真空室的真空法兰连接,然后用同轴线连接位于真空室外的矢量网络分析仪,最后矢量网络分析仪连入计算机。电子辐照条件的产生和调控方法,待测天线电子辐照条件由电子枪产生,通过调节电子枪的电压来控制电子辐照强度,调节电子束斑大小确保电子辐照均匀覆盖待测天线全尺寸,本发明不仅结构简单,而且测量方法简便、测量周期短效率高。
搜索关键词: 一种 真空 环境 电子 辐照 天线 性能 测量 装置 方法
【主权项】:
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