[发明专利]一种用于原位结构检测的高分子薄膜材料拉伸装置在审

专利信息
申请号: 202110007238.7 申请日: 2021-01-05
公开(公告)号: CN112378746A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 王芬;张威;李永刚 申请(专利权)人: 南京贝迪新材料科技股份有限公司
主分类号: G01N3/04 分类号: G01N3/04;G01N3/10;G01N3/02
代理公司: 南京禾祁专利代理事务所(普通合伙) 32462 代理人: 黄天天
地址: 225300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于原位结构检测的高分子薄膜材料拉伸装置,包括底座,所述底座外壁一侧固定安装有PLC控制器,拉伸机构,检测箱,调节机构,所述调节机构包括驱动电机和升降机构,所述驱动电机动力输出端贯穿底座且固定连接有传动杆;本发明通过安装的调节机构,通过支撑杆带动两个拉伸机构相互靠近运动,可使两个夹头组件之间的间距变小,能够对较小尺寸的高分子薄膜材料进行拉伸,通过支撑杆带动两个拉伸机构相互远离运动,可使两个夹头组件之间的间距变大,能够对较大尺寸的高分子薄膜材料进行拉伸,从而能够根据高分子薄膜材料的尺寸大小来进行调节,可满足不同类型高分子薄膜材料的使用。
搜索关键词: 一种 用于 原位 结构 检测 高分子 薄膜 材料 拉伸 装置
【主权项】:
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