[发明专利]颗粒分析装置在审
| 申请号： | 202080059790.4 | 申请日： | 2020-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN114286934A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 室田雄辉;吉富匠;藤泽直广 | 申请（专利权）人： | NOK株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/12 | 分类号： | G01N15/12;G01N27/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 马运刚;李维凤 |
| 地址： | 日本东京都港*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 颗粒分析装置具有：储存有第一液体的上方液体空间、储存有第二液体的下方液体空间、将上方液体空间与下方液体空间连接的连接孔和第一～第四孔。第一～第四孔各自具有在颗粒分析装置的上表面开口的开口部。第一孔与第二孔向上方液体空间延伸。第三孔与第四孔向下方液体空间延伸。第一电极通过第一孔对上方液体空间内的第一液体施加电位，第二电极通过第三孔对下方液体空间内的第二液体施加电位。第一孔和第二孔的至少一者的开口部具有比该孔的其他部分大的面积。第三孔和第四孔的至少一者的开口部具有比该孔的其他部分大的面积。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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