[发明专利]多重环绕飞行时间型质量分析装置在审
| 申请号： | 202080053175.2 | 申请日： | 2020-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN114175210A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 上野良弘;前田竜五;立石勇介;三浦宏之 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/06 |
| 代理公司： | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人： | 杨楷;毛立群 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的一方案的MT‑TOFMS具备：线性离子阱(2)，将作为分析对象的离子暂时保持，并通过沿一个方向呈细长形状的离子射出开口(211)射出该离子；环绕飞行部(3)，形成能够使离子反复飞行的环绕轨道(P)；狭缝部(5)，配设在从线性离子阱(2)射出的离子直到被导入环绕轨道期间的离子路径，屏蔽离子射出开口(211)在长度方向上的一部分离子。 | ||
| 搜索关键词： | 多重 环绕 飞行 时间 质量 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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