[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 202080005946.0 | 申请日： | 2020-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN113039440A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 森高通;佐川彰太郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 殷明;宋俊寅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种自动分析装置，能够使用于将接受附着在探针上的清洗液的真空瓶中留存的清洗液排出的电磁阀维持清洁的状态。自动分析装置包括：清洗槽(14)，其具有喷出用于清洗探针的清洗液的清洗液喷口(41)、及用于探针插入的真空吸引口(40)；留存清洗液的清洗罐(51)；真空罐(55)；使真空罐与大气压相比处于负压状态的真空泵(54)；以及配置在真空吸引口(40)与真空罐(55)之间的真空瓶(56)，作为清洗液流入真空瓶(56)的流路，具有与真空吸引口(40)相连接的第一流路和与清洗罐(51)相连接的第二流路。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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